电子产品在各种环境下会不会坏?要做哪些 “抗压测试”?

电子产品的可靠性测试是确保其质量与寿命的关键。从高温到盐雾,从振动到老化,这些测试模拟极端环境,暴露潜在缺陷,最终为产品迭代提供数据支持。只有通过层层考验的电子产品,才能为用户带来持久稳定的使用体验。

可靠性试验主要包括

1.气候环境试验:高低温试验、高低温交替试验、快速温度变化试验、防护等级试验;

2.盐雾试验:中性盐雾、酸性盐雾、铜加速盐雾、循环盐雾、交变盐雾;

3.机械试验:振动试验(随机振动、扫频振动)、机械冲击试验、跌落试验、三综合试验;

4.力学系统性能试验:拉伸性能、弯曲性能、压缩生产性能、摆锤冲击;

5.热性能测试:热变形温度、维卡软化点、熔化指数;

6.电学系统性能:介电强度、绝缘材料电阻、接触电阻、电压降;

7.材料试验:氙气灯老化试验、荧光灯老化试验、材料邵氏硬度、铅笔硬度、耐化学性、色差、光泽度、附着力、附着力。

可靠性检测分类方法

1.如以环境发展条件来划分,可分为包括通过各种各样应力条件下的模拟系统测试和现场进行测试;

2.试验项目可分为环境试验、寿命试验、加速试验和各种特殊试验;

3.若按测试研究目的来划分,则可分为筛选进行测试、鉴定系统测试和验收通过测试;

4.按试验性质也可分为破坏性试验和非破坏性试验。

可靠性试验

**温度下限工作试验**  

受试样品先加电运行测试程序进行初试检测。在受试样品不工作的条件下,将箱内温度逐渐降到0℃,待温度稳定后,加电运行测试程序5h,受试样品功能与操作应正常,试验完后,待箱温度回到室温,取出样品,在正常大气压下恢复2h。推荐检验标准:受试样品功能与操作应正常,外观无明显偏差。  

低温储存试验将样品放入低温箱,使箱温度降到-20℃,在受试样品不工作的条件下存放16h,取出样品回到室温,再恢复2h,加电运行测试程序进行检验,受试样品功能与操作应正常,外观无明显偏差。为防止试验中受试样品结霜和凝露,允许将受试样品用聚乙稀薄膜密封后进行试验,必要时还可以在密封套内装吸潮剂。推荐检验标准:受试样品功能与操作应正常,外观无明显偏差。

温度上限工作试验  受试样品先进行初试检测。在受试样品不工作的条件下,将箱温度逐渐升到40℃,待温度稳定后,加电运行系统诊断程序5h,受试样品功能与操作应正常,试验完后,待箱温度回到室温,取出样品,在正常大气压下恢复2h。推荐检验标准:受试样品功能与操作应正常,外观无明显偏差。

高温储存试验  将样品放入高温箱,使箱温度升到55℃,在受试样品不工作的条件下存放16h,取出样品回到室温,恢复2h。推荐检验标准:受试样品功能与操作应正常,外观无明显偏差。在实际的测试当中,会因产品各自属性的差异、使用环境也会有所差异,这时,可根据产品特性、及特定的使用环境和使用方法,适当选取或增加一些项目来测试,以便验证产品是否能够长期有效地进行工作。

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